有哪些是環(huán)境試驗的范圍之內(nèi)

按照GB/T2423的要求環(huán)境試驗有以下幾點：

  1、低溫試驗

  按GB/T 2423.1—89 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  低溫試驗》、GB/T 2423.22—87 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  溫度變化試驗方法》進(jìn)行低溫試驗及溫度變化試驗。

溫度范圍：-70℃～10℃。

2、高溫試驗

  按GB/T 2423.2—89 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  高溫試驗》、GB/T 2423.22—87 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  溫度變化試驗方法》進(jìn)行高溫試驗及溫度變化試驗。

溫度范圍：10℃～210℃。

3、濕熱試驗

按GB/T 2423.3—93 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4—93 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  交變濕熱試驗》進(jìn)行恒定濕熱試驗及交變濕熱試驗。  

濕度范圍：30%RH～100%RH

4、霉菌試驗

按GB/T 2423.16—90 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  長霉試驗》進(jìn)行霉菌試驗。

5、鹽霧試驗

按GB/T 2423.17—93 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  鹽霧試驗》進(jìn)行鹽霧試驗。

6、低氣壓試驗

按GB/T 2423.21—92 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  低氣壓試驗》、GB/T2423.25—92 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  低溫/低氣壓試驗》、GB/T2423.26—92 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  高溫/低氣壓試驗》進(jìn)行低氣壓試驗；高、低溫/低氣壓試驗。

試驗范圍：-70℃～100℃  0～760mmHg   20%～95%RH。

7、振動試驗

按GB/T 2423.10—95 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  振動試驗》進(jìn)行振動試驗。  

頻率范圍（機(jī)械振動臺）：5～60Hz（定頻振動5～80Hz），zui大位移振幅3.5mm（滿載）。

頻率范圍（電磁振動臺）：5～3000Hz，zui大位移25mmP-P。                

8、沖擊試驗

按GB/T 2423.5—95 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  沖擊試驗》進(jìn)行沖擊試驗。

沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。

9、碰撞試驗

按GB/T 2423.6—95 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  碰撞試驗》進(jìn)行碰撞試驗。

10、跌落試驗

按GB/T 2423.7—95 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  傾跌與翻到試驗》、GB/T2423.8—95 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第二部分：試驗方法  自由跌落試驗》進(jìn)行跌落試驗。